異物分析，是專門(mén)分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
異物分析，是專門(mén)分析產(chǎn)品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進(jìn)行之成分的技術(shù)。例如對(duì)表面嵌入異物、斑點(diǎn)、油狀物、噴霜等異常物質(zhì)進(jìn)行定性分析，藉此找尋污染源或配方不相容者，是改善產(chǎn)品最常用的分析方法之一。
應(yīng)用范圍
針對(duì)產(chǎn)品上的表面污染物、析出物等異常物質(zhì)，如產(chǎn)品表面的顆粒物、油狀物、霧狀物、斑點(diǎn)等。
表面異物分析項(xiàng)目
1.有機(jī)異物分析
2.無(wú)機(jī)異物分析
3.未知異物分析
4.產(chǎn)品異常現(xiàn)象比對(duì)分析
主要分析方法
方法 | 應(yīng)用范圍 |
紅外光譜法 | 1.顯微FTIR， 僅需10um以上樣品即可測(cè)試 |
掃描電子顯微鏡和能量色散X射線譜法 | 1.固體 |
俄歇電子能譜分析儀法 | 極表面 （0-3nm） 分析設(shè)備 |
X射線電子光能譜分析法 | 1.更精密的元素分析 |
飛行時(shí)間?次離子質(zhì)譜分析法 | ppm級(jí)別表面有機(jī)成分分析 |
動(dòng)態(tài)?次離子質(zhì)譜分析法 | ppb級(jí)表面及芯部成分分析 |
氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀分析法 | 1.固體/液體 |
分析步驟
1、表面觀察：主要采用光學(xué)顯微鏡觀察（OM）觀察異物在表面還是嵌入在基體材料內(nèi)。
2、異物物質(zhì)種類判斷：主要采用傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）、顯微紅外（M）判斷異物主要是有機(jī)物還是無(wú)機(jī)物。
3、有機(jī)物分析手段：可能涉及Py-GCMS、萃取GC-MS、MS等。
4、無(wú)機(jī)物分析手段（主要是元素分析）：主要采用掃描電鏡能譜儀（SEM-EDS）等。
測(cè)試儀器
